ИРК-ПРО Гамма — кабельный прибор

Описание товара

Назначение кабельного прибора ИРК-ПРО Гамма:

ИРК-ПРО Гамма – уникальный прибор нового поколения. Цветной графический дисплей с высоким разрешением 640х480. Мощный рефлектометр на длины кабеля до 65 км и для работы с очень короткими кабелями. Измерительный мост ИРК-ПРО, сценарии поиска повреждений, протокол поиска. В прибор заложена возможность наращивания новых измерительных и сервисных функций: по мере их появления измеритель легко сможет улучшить свой прибор.

Рефлектометр предназначен для определения расстояния до места изменения волнового сопротивления всех типов кабелей:
- повреждения;
- муфты;
- длина;
- взаимное влияние;
- разбитость пар.
Мост:
- измерение расстояния до понижения изоляции кабеля;
- определения места обрыва жил кабеля;
- измерения сопротивления изоляции, шлейфа, омической асимметрии, электрической емкости всех типов кабелей.

Технические характеристики кабельного прибора ИРК-ПРО Гамма:

Параметр	Значение
Цветной дисплей	640х480
Меню	Многофункциональное, сценарии поиска
Связь с компьютером	через USB-порт
Сменные карты памяти	без ограничения объема
Питание	от встроенного аккумулятора 6 элементов типа С NiMh 3.2 Ач
Потребляемая мощность	7 Вт
Габариты	270х240х120 мм
Масса	2,5 кг

Технические характеристики рефлектометра:

Параметр	Значение
Диапазоны измеряемых рефлектометром расстояний	64, 128, 256, 512, 1024, 2048, 4096, 8192, 16384, 32768, 65536 м
Максимальное разрешение	0,2 м
Перекрываемое затухание	не менее 80 дБ
Регулируемая амплитуда зондирующего импульса	6 – 18 В с шагом 1 В
Длительность зондирующего импульса	8~50000 нс
Количество усреднений	2, 4, 8, 16, 32, 64, 128, 256, 512
Диапазон установки коэффициента укорочения	1-7 с шагом 0,001

Технические характеристики моста:

Параметр	Значение
Диапазон измерения сопротивления изоляции	1 кОм – 50000 МОм
Диапазон электрической емкости	0,1 – 2000 нФ
Диапазон измерения сопротивления шлейфа	0 – 10 кОм
Диапазон измерения напряжения	0 – 300 В
Испытательное напряжение	400 В, 180 В
Диапазон Rп в месте повреждения изоляции	0 – 20 МОм
Максимальная погрешность локализации дефекта	0,1%+1м (для R_п = 0 – 3 МОм)
Максимальная погрешность измерения R_шл 0 ~ 3000 Ом	± 0,1%+0,1 Ом
Максимальная погрешность измерения R_a	± 0,1%+0,1 Ом
Максимальная погрешность измерения R_из, C_x	± 2%